利用分光光度法测定镀液或镀层中纳米微粒含量的方法
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
利用分光光度法测定镀液或镀层中纳米微粒含量的方法，属于分析化学领域，涉及一种测试方法。为了解决现有分光光度法测量镀层和镀液中纳米微粒含量时测试结果不易重现，准确度不高的问题，本发明的测定方法按照如下步骤进行：一、确定测定波长；二、绘制标准曲线；三、测定待测实际工作液样品中纳米微粒的含量，其中在确定测定波长、绘制标准曲线和测定待测实际工作液样品中纳米微粒的含量步骤中使用的测试液中加入浓度为0.05g/ml的阿拉伯胶。本发明采用常规仪器紫外－可见分光光度计为主要设备，操作简单、省时，加入稳定剂阿拉伯胶后显著的提高了测试的灵敏度、稳定性，扩大了纳米微粒吸光度与浓度的线性关系范围，提高了测定结果的准确性和重现。
基本信息
专利标题 ：
利用分光光度法测定镀液或镀层中纳米微粒含量的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1786686A
申请号 ：
CN200510010525.4
公开（公告）日 ：
2006-06-14
申请日 ：
2005-11-11
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
安茂忠郑环宇卞军军
申请人 ：
哈尔滨工业大学
申请人地址 ：
150001黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
代理机构 ：
哈尔滨市松花江专利商标事务所
代理人 ：
单军
优先权 ：
CN200510010525.4
主分类号 ：
G01N21/33
IPC分类号 ：
G01N21/33
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应，例如原子吸收光谱术
G01N21/33
利用紫外光
法律状态
2009-03-25 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
2006-08-09 ：
实质审查的生效
2006-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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