一种圆柱形高Q谐振腔及微波电介质复介电常数测试装置
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
一种圆柱形高Q谐振腔及微波电介质复介电常数测试装置，属于微波测试技术领域。圆柱形高Q谐振腔包括圆柱形腔筒1、上端盖10、下端盖6和两个微波能量耦合装置4，圆柱形腔筒1、上端盖10和下端盖6工作时相互接触，形成一个圆柱形谐振腔，所述上端盖10在圆柱形腔筒1中的位置连续可调，以实现高Q腔的谐振频率连续可调，所述微波能量耦合装置4位于圆柱形腔筒1的两侧。微波电介质复介电常数测试装置包括微波信号源7、本发明的圆柱形高Q谐振腔8、标量网络分析仪9。本发明的圆柱形高Q谐振腔，其腔长连续可调，谐振频率连续可变，尺寸较小，使用方便。因所采用腔体的谐振频率连续可调，可完成微波电介质复介电常数的扫频测试；测试过程快速，结果准确可靠。
基本信息
专利标题 ：
一种圆柱形高Q谐振腔及微波电介质复介电常数测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1790040A
申请号 ：
CN200510022223.9
公开（公告）日 ：
2006-06-21
申请日 ：
2005-12-06
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李恩郭高凤张其劭
申请人 ：
电子科技大学
申请人地址 ：
610054四川省成都市建设北路二段四号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN200510022223.9
主分类号 ：
G01R31/12
IPC分类号 ：
G01R31/12 G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/12
•测试介电强度或击穿电压
法律状态
2009-02-25 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
2006-08-16 ：
实质审查的生效
2006-06-21 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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