微波介质基片复介电常数测试传感器
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
一种微波介质基片复介电常数测试传感器，是由两片同种材料、同样大小的被测介质基片、一根直的谐振金属导带、两块金属接地板、以及在中心谐振金属导带两端对称地放置有两根输入和输出同轴线组成。本测试传感器的优点是实现了介质基片复介电常数宽范围的、宽频带的、迅速准确的非损伤测量。
基本信息
专利标题 ：
微波介质基片复介电常数测试传感器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN89213062.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1989-07-12
授权号 ：
CN2062457U
授权日 ：
1990-09-19
发明人 ：
唐宗熙张其劭李功孝陈玲樊勇
申请人 ：
电子科技大学
申请人地址 ：
四川省成都市建设北路二段四号电子科技大学
代理机构 ：
电子科技大学专利事务所
代理人 ：
盛明洁
优先权 ：
CN89213062.8
主分类号 ：
G01R27/26
IPC分类号 ：
G01R27/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/26
电感或电容的测量；品质因数的测量，例如通过应用谐振法；损失因数的测量；介电常数的测量
法律状态
1994-06-01 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1991-05-08 ：
授权
1990-09-19 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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