微波吸收材料的复介电常数和复磁导率的测试方法及系统
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
摘要
一种微波吸收材料的复介电常数ε和复导磁率μ的测试方法和系统。用微波干涉方法，定标技术和比对测量的方法，得到散射系数S11和S21。该系统包括微波信号单元，能进行四种不同测量转换的放样品装置和S参数测量单元。后者由衰减器，驻波测量线，隔离器，功率传感器和指示器组成。本系统建立容易，操作简单，价格低。其测量精度不低于用微波矢量网络分析仪所获得的结果。
基本信息
专利标题 ：
微波吸收材料的复介电常数和复磁导率的测试方法及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1032238A
申请号 ：
CN87107345.5
公开（公告）日 ：
1989-04-05
申请日 ：
1987-12-07
授权号 ：
CN1004173B
授权日 ：
1989-05-10
发明人 ：
倪尔湖施铁矛张志鸣沈建华
申请人 ：
浙江大学
申请人地址 ：
浙江省杭州市玉泉
代理机构 ：
浙江大学专利代理事务所
代理人 ：
张法高
优先权 ：
CN87107345.5
主分类号 ：
G01R27/04
IPC分类号 ：
G01R27/04 G01R27/26 G01R33/12 G01N22/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/04
在具有分布常数的电路中的测量
法律状态
1992-05-06 ：
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
1989-12-27 ：
授权
1989-05-10 ：
审定
1989-04-05 ：
公开
1988-07-27 ：
实质审查请求
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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