材料介电常数宽频带测试结构及其测试方法

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摘要

本发明公开了一种材料介电常数宽频带测试结构及其测试方法，适用于低介电常数(小于10)、低损耗片状材料的复介电常数测量，实现了单腔宽频的复介电常数测量，其包括两个同轴转接头、圆波导谐振腔、第一样品口、第二样品口、第三样品口、第一片状待测材料、第二片状待测材料、第三片状待测材料。测试频段为0.7‑10GHz，选用三个工作模式：TM₀₁₀(覆盖频段为0.90‑1.00GHz)、TM₂₂₀(覆盖频段为3.15‑3.45GHz)、TM₄₆₀(覆盖频段为9.50‑9.70GHz)，分别对应三个样品口。测试时根据所需测量频段，在相应样品口插入一块片状待测材料，其余两个样品口空置。本发明具有高精度、结构简单、加工成本低和待测材料容易取放等优点。

基本信息

专利标题：

材料介电常数宽频带测试结构及其测试方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN113484615A

申请号：

CN202110861035.4

公开（公告）日：

2021-10-08

申请日：

2021-07-29

授权号：

CN113484615B

授权日：

2022-05-24

发明人：

陈付昌黄学全

申请人：

华南理工大学

申请人地址：

广东省广州市天河区五山路381号

代理机构：

广州市华学知识产权代理有限公司

代理人：

冯炳辉

优先权：

CN202110861035.4

主分类号：

G01R27/26

IPC分类号：

G01R27/26