高速DAC线性的测量

专利权的终止

摘要

一种高速模拟数字转换器(DAC)测量方法，采集和量化由DAC输出的相应于数字斜坡输入的模拟斜坡以产生量化的斜坡，确定量化的斜坡的开始和结束，获得量化的斜坡和理想的斜坡之间的差值以产生量化的周期信号(三角形的或正弦的)，从量化的周期信号的FFT中确定合格峰值的频率，从合格峰值周围的iFFT中产生屏蔽过滤的周期信号，并且在量化的周期信号的每一周期内确定跨越局部最大值和最小值的采样窗口。斜坡步长电平是每一采样窗口当中采样的平均值。从DAC LSB中的步长电平中，确定DAC的分辨率、单调性、微分线性和积分线性。

基本信息

专利标题：

高速DAC线性的测量

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1801626A

申请号：

CN200510048891.9

公开（公告）日：

2006-07-12

申请日：

2005-12-16

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

K·M·费尔古森

申请人：

特克特朗尼克公司

申请人地址：

美国俄勒冈州

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司

代理人：

程天正

优先权：

CN200510048891.9

主分类号：

H03M1/10

IPC分类号：

H03M1/10