介质阻挡放电原子化/离子化方法及其装置

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摘要

介质阻挡放电原子化/离子化方法及其装置涉及分析化学原子化/离子化方法技术领域，特别涉及介质阻挡放电用于氢化物的原子化/离子化技术。其特征在于，将氢化物通过载气进入介质阻挡放电通道来进行原子化/离子化，气体的流速为30毫升/分钟至1000毫升/分钟，采用高压高频电源进行放电，电压为220V～10000V，频率为50Hz～50MHz。本发明具有结构简单，体积小等优点，可用于原子吸收，原子发射，原子荧光以及质谱分析。

基本信息

专利标题：

介质阻挡放电原子化/离子化方法及其装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1763520A

申请号：

CN200510086518.2

公开（公告）日：

2006-04-26

申请日：

2005-09-27

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

张新荣朱振利张四纯

申请人：

清华大学

申请人地址：

100084北京市北京100084－82信箱

代理机构：

代理人：

优先权：

CN200510086518.2

主分类号：

G01N30/06

IPC分类号：

G01N30/06