光图像计测装置
专利权的终止
摘要

本发明提供一种光图像计测装置,可在短时间内进行包含双折射层的被测定物体的计测。该光图像计测装置包括输出被周期性强度调制的光束的宽频带光源、扩大光束径的透镜、将光束转换为直线偏光的偏光板、将光束分割为信号光和参照光的半透镜、将参照光转换为圆偏光的波长板、将朝向被测定物体的信号光形成圆偏光,将来自被测定物体的信号光形成直线偏光的波长板、使参照光进行频率位移的频率位移器、从参照光和信号光所生成的干涉光将偏光成分和偏光成分进行分离的偏光分光器、接受各偏光成分并输出含有其强度变化的信息的检测信号的、根据该强度变化的信息形成反映被测定物体的双折射的图像的信号处理部。

基本信息
专利标题 :
光图像计测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1763499A
申请号 :
CN200510108382.0
公开(公告)日 :
2006-04-26
申请日 :
2005-10-13
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
陈建培秋叶正博
申请人 :
株式会社拓普康
申请人地址 :
日本东京都
代理机构 :
北京中原华和知识产权代理有限责任公司
代理人 :
寿宁
优先权 :
CN200510108382.0
主分类号 :
G01N21/17
IPC分类号 :
G01N21/17  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
法律状态
2013-12-04 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101547739393
IPC(主分类) : G01N 21/47
专利号 : ZL2005101083820
申请日 : 20051013
授权公告日 : 20100203
终止日期 : 20121013
2010-02-03 :
授权
2007-08-15 :
实质审查的生效
2006-04-26 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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