物体尺寸量测系统及方法
专利权的终止
摘要
本发明提供一种物体尺寸量测系统，包含：第一共焦显微量测装置、第二共焦显微量测装置及位移装置，该第一及第二共焦显微量测装置分别配置于待测物的待测尺寸方向的第一及第二两侧端面且其两共焦显微量测装置的第一物镜分别面向该待测物的两端面，其中该第二共焦显微量测装置的第一物镜载置于该位移装置上并随该位移装置的轴向移动而接近或远离该物镜所面向的待测物端面。本发明并进一步提供一种应用于前述量测系统的方法。
基本信息
专利标题 ：
物体尺寸量测系统及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1940468A
申请号 ：
CN200510108780.2
公开（公告）日 ：
2007-04-04
申请日 ：
2005-09-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
郑凯宇陈彦良徐祥瀚陈怡菁蓝玉屏
申请人 ：
财团法人工业技术研究院
申请人地址 ：
台湾省新竹县
代理机构 ：
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 ：
周长兴
优先权 ：
CN200510108780.2
主分类号 ：
G01B11/06
IPC分类号 ：
G01B11/06 G02F1/13
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B11/06
用于计量厚度
法律状态
2018-09-18 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01B 11/06
申请日 : 20050930
授权公告日 : 20080528
终止日期 : 20170930
申请日 : 20050930
授权公告日 : 20080528
终止日期 : 20170930
2008-05-28 ：
授权
2007-05-30 ：
实质审查的生效
2007-04-04 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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