物体微跌测试方法和装置
专利权的终止
摘要
本发明公开了一种物体微跌测试方法,将被测物体放置在一个托板上,然后使该托板从高点位置快速下降,从而使被测物体在低点位置与该托板碰撞。本发明还公开了一种用于上述方法的物体微跌测试装置,包括一个气缸,还包括一个与该气缸相连的托板。本发明能够同时测试多个测试物体,提高了生产效率。
基本信息
专利标题 :
物体微跌测试方法和装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1979121A
申请号 :
CN200510111358.2
公开(公告)日 :
2007-06-13
申请日 :
2005-12-08
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
刘贤琦
申请人 :
上海晨兴电子科技有限公司
申请人地址 :
201700上海市青浦区胜利路888号
代理机构 :
上海智信专利代理有限公司
代理人 :
薛琦
优先权 :
CN200510111358.2
主分类号 :
G01N3/303
IPC分类号 :
G01N3/303 G01M7/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/18
••在高温或低温下进行试验
G01N3/30
用一次冲击力
G01N3/303
仅由自由下落的重物产生的
法律状态
2018-12-11 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01N 3/303
申请日 : 20051208
授权公告日 : 20090506
终止日期 : 20171208
申请日 : 20051208
授权公告日 : 20090506
终止日期 : 20171208
2010-06-09 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101002758736
IPC(主分类) : G01N 3/303
专利号 : ZL2005101113582
变更事项 : 专利权人
变更前 : 上海晨兴电子科技有限公司
变更后 : 上海晨兴希姆通电子科技有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 201700 上海市青浦区胜利路888号
变更后 : 201700 上海市青浦区胜利路888号
号牌文件序号 : 101002758736
IPC(主分类) : G01N 3/303
专利号 : ZL2005101113582
变更事项 : 专利权人
变更前 : 上海晨兴电子科技有限公司
变更后 : 上海晨兴希姆通电子科技有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 201700 上海市青浦区胜利路888号
变更后 : 201700 上海市青浦区胜利路888号
2009-05-06 :
授权
2007-08-08 :
实质审查的生效
2007-06-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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