使用微波成像进行安全检查的系统和方法
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摘要
本发明公开了一种安全检查系统，其使用微波辐射来成像人体对象或其他物品上的目标。该系统包括天线元件的阵列，所述天线元件可用各自的相位延迟来编程，从而朝着人体对象或物品上的目标定向微波照射波束。天线元件还能够接收反射自目标的反射微波照射。处理器可操作来测量反射微波照射的强度以确定人体对象或物品的图像内的像素值。多个波束可以朝着人体对象或物品被定向，以获得处理器用来构建图像的相应像素值。
基本信息
专利标题 ：
使用微波成像进行安全检查的系统和方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1779442A
申请号 ：
CN200510114283.3
公开（公告）日 ：
2006-05-31
申请日 ：
2005-10-21
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
伊扎克·巴哈拉夫罗伯特·C·塔巴尔格雷戈里·史蒂文·李约翰·斯蒂夫·考弗尔
申请人 ：
安捷伦科技有限公司
申请人地址 ：
美国加利福尼亚州
代理机构 ：
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
柳春雷
优先权 ：
CN200510114283.3
主分类号 ：
G01N22/00
IPC分类号 ：
G01N22/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N22/00
利用微波或者无线电波，即具有一毫米或更大的波长的电磁波测试或分析材料
法律状态
2011-02-02 ：
授权
2008-01-23 ：
实质审查的生效
2006-05-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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