比吸收率测量系统和方法
专利权的终止
摘要

提供了一种在评价电磁波能量吸收的比吸收率测量系统中使用的活体等效体模单元。该体模单元包括:用于接受电磁波的吸收的活体等效体模;分别配置在活体等效体模内的多个被测量点处、具有与活体等效体模的介电常数接近的介电常数的多个电光晶体;为了使各电光晶体与外部结合而铺设在所述活体等效体模内的多条光纤。另外,提供了一种使用了活体等效体模单元的用于评价电磁波能量的吸收的比吸收率测量系统,其由以下部分构成:射出光的光源;调节从光源射出的光的偏振状态的偏光调节器;使从偏光调节器射出的光依次入射到各电光晶体的光路切换器;以及通过检测从电光晶体反射的光来测量比吸收率的比吸收率测量单元。

基本信息
专利标题 :
比吸收率测量系统和方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1769926A
申请号 :
CN200510117487.2
公开(公告)日 :
2006-05-10
申请日 :
2005-11-02
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
大西辉夫山口良上林真司都甲浩芳清水直文永妻忠夫
申请人 :
株式会社NTT都科摩;日本电信电话株式会社
申请人地址 :
日本东京
代理机构 :
北京三友知识产权代理有限公司
代理人 :
黄纶伟
优先权 :
CN200510117487.2
主分类号 :
G01T1/00
IPC分类号 :
G01T1/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
法律状态
2019-10-25 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01R 29/08
申请日 : 20051102
授权公告日 : 20080514
终止日期 : 20181102
2008-05-14 :
授权
2006-07-05 :
实质审查的生效
2006-05-10 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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