红外热波无损检测中提高吸收率和发射率的方法及装置
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摘要

本发明涉及红外热波无损检测技术,尤其是在红外热波无损检测过程中提高被测物体表面吸收率和发射率的方法及其装置。方法的特征在于在红外热波无损检测过程中,选用具有较好可见光吸收率和红外发射率的功能薄膜,包裹或覆盖被测物体,并通过将被测物体表面和薄膜之间空气抽掉的方法使功能膜和被测物体紧密接触。针对被测物体大小的不同,本发明提供了两种实现上述方法的装置。本发明能够实现检测过程中对被检测物体完全无污损的同时,还能提高被测物体对可见光的吸收率和红外发射率,从而大大提高红外热波无损检测对表面反射率较高且不可进行喷漆处理的物体的检测效果适用于对易腐蚀或者精密航天、航空器件的红外热波无损检测。

基本信息
专利标题 :
红外热波无损检测中提高吸收率和发射率的方法及装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1766595A
申请号 :
CN200510125666.0
公开(公告)日 :
2006-05-03
申请日 :
2005-12-02
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
王迅段玉霞金万平冯立春张存林
申请人 :
首都师范大学;北京维泰凯信新技术有限公司
申请人地址 :
100037北京市海淀区西三环北路105号
代理机构 :
北京诺孚尔知识产权代理有限责任公司
代理人 :
庞涛
优先权 :
CN200510125666.0
主分类号 :
G01N25/72
IPC分类号 :
G01N25/72  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N25/00
应用热方法测试或分析材料
G01N25/72
测试缺陷的存在
法律状态
2010-07-28 :
授权
2006-06-28 :
实质审查的生效
2006-05-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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