红外热波无损检测中提高吸收率和发射率的装置

发明专利申请公布后的视为撤回

摘要

本发明涉及红外热波无损检测技术，尤其是在红外热波无损检测过程中提高被测物体表面吸收率和发射率的装置。本发明采用的方法为在红外热波无损检测过程中，选用具有较好可见光吸收率和红外发射率的功能薄膜，覆盖被测物体，并通过将被测物体表面和薄膜之间空气抽掉的方法使功能膜和被测物体紧密接触，其特征在于在现有红外热波无损检测系统的基础上，对闪光灯遮罩进行了改进，从而实现上述方法。本发明能够实现检测过程中对被检测物体完全无污损的同时，还能提高被测物体对可见光的吸收率和红外发射率，从而大大提高红外热波无损检测对表面反射率较高且不可进行喷漆处理的物体的检测效果适用于对易腐蚀或者精密航天、航空器件的红外热波无损检测。

基本信息

专利标题：

红外热波无损检测中提高吸收率和发射率的装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN101368920A

申请号：

CN200810167857.7

公开（公告）日：

2009-02-18

申请日：

2005-12-02

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

王迅段玉霞金万平冯立春张存林

申请人：

首都师范大学;北京维泰凯信新技术有限公司

申请人地址：

100048北京市海淀区西三环北路105号

代理机构：

北京诺孚尔知识产权代理有限责任公司

代理人：

庞涛

优先权：

CN200810167857.7

主分类号：

G01N25/72

IPC分类号：

G01N25/72