光学仪器的制造方法

专利权的终止(未缴年费专利权终止)

摘要

本发明提供在光学仪器的制造工艺过程中进行半导体激光器的角度位置的调整等时，不使用复杂的算法也能高精度地检测出半导体激光元件的发光图案的倾角的光学仪器的制造方法。在制造光头装置等光学仪器时，在半导体激光元件(20)的角度位置检测工序中，以低于激发阈值的电流驱动半导体激光元件(20)，使半导体激光元件(20)的端面以自发发射的模式呈线状发光，根据线状发光图案的观察结果，检测出半导体激光元件(20)的光轴周围的角度位置。这时，也可以对线状的发光图案进行图象处理并求得所述发光图案的直线近似图案，根据直线近似图案检测出半导体激光元件(20)的光轴周围的角度位置。所述检测结果可以用于调整半导体激光元件(20)的角度位置等。

基本信息

专利标题：

光学仪器的制造方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1783265A

申请号：

CN200510119234.9

公开（公告）日：

2006-06-07

申请日：

2005-10-28

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

石原久宽

申请人：

株式会社三协精机制作所

申请人地址：

日本长野县

代理机构：

上海专利商标事务所有限公司

代理人：

沈昭坤

优先权：

CN200510119234.9

主分类号：

G11B7/22

IPC分类号：

G11B7/22 G11B7/125