有机EL元件激光修复方法及激光修复装置
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
提供一种通过精确掌握有机EL元件的缺陷区的位置，用激光局部照射缺陷区，使存在区陷区的象素在不丧失该象素内的有机EL元件的全部功能的条件下，既保留缺陷部分以外的有机EL元件的发光功能，又只局部修复该象素内的有机EL元件中的有缺陷区的方法和装置。测定有机EL元件的电压电流特性，通过比较该电压电流特性与规定的基准电压电流特性，判定有无漏泄电流，通过给有机EL元件施加低于发光阈值的电压，取得漏泄发光图像，通过给漏泄发光部分照射激光进行修复，当通过给有机EL元件施加低于阈值电压而未发现漏泄发光图像，以及当通过测定的电压电流特性，发现漏泄电流减少了时可确认已正确修复。
基本信息
专利标题 ：
有机EL元件激光修复方法及激光修复装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1909752A
申请号 ：
CN200510120019.0
公开（公告）日 ：
2007-02-07
申请日 ：
2005-11-08
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
赤津光俊三浦伸仁筒井长德
申请人 ：
株式会社ITES
申请人地址 ：
日本滋贺县
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人 ：
杜日新
优先权 ：
CN200510120019.0
主分类号 ：
H05B33/10
IPC分类号 ：
H05B33/10 G01R31/00 G01N21/88
法律状态
2012-10-03 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
号牌文件类型代码 : 1603
号牌文件序号 : 101454773303
IPC(主分类) : H05B 33/10
专利申请号 : 2005101200190
申请公布日 : 20070207
号牌文件序号 : 101454773303
IPC(主分类) : H05B 33/10
专利申请号 : 2005101200190
申请公布日 : 20070207
2008-09-10 ：
实质审查的生效
2007-02-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
