公开了一种模拟晶片、利用其校正的系统和校正自动测试设备的方法。在一个实施例中，一种用于校正自动测试设备的模拟晶片包括具有多个互连区域的印刷电路板，每一个互连区域包含一对通过连接迹线耦合的模拟管芯焊盘。在另一个实施例中，一种用于校正自动测试设备(ATE)的方法可以包括将模拟晶片耦合到自动测试设备，然后使得ATE 1)相对于测试头连接器换位模拟晶片，2)将测试头连接器的多个探针耦合到模拟晶片的多个管芯焊盘，3)在通过模拟晶片的一对模拟管芯焊盘和连接迹线耦合的一对探针之间发射测试信号，以及4)通过记录所发射的测试信号的特性，校正ATE的选定信号通路或者多个信号通路。