硬盘状态显示灯的测试方法及其测试系统

专利权的终止

摘要

本发明涉及一种硬盘状态显示灯的测试方法及其测试系统，其用以检测一硬盘的硬盘状态显示灯的工作状态是否正常，本发明首先依照硬盘的容量获得其总磁道数N；设定磁头第一次搜寻时的磁头摆动的振幅为N，然后依照上述设定驱动磁头在硬盘上做钟摆式搜寻以驱动硬盘状态显示灯闪烁；以及最后判断每次硬盘状态显示灯的闪烁是否与每次搜寻相对应。本发明有效降低了硬盘状态显示灯的闪烁频率，更易于检测人员观察其工作状态是否良好，从而提高了对硬盘状态显示灯测试的准确性。

基本信息

专利标题：

硬盘状态显示灯的测试方法及其测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1979208A

申请号：

CN200510129510.X

公开（公告）日：

2007-06-13

申请日：

2005-12-05

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

周翔陈玄同刘文涵

申请人：

英业达股份有限公司

申请人地址：

中国台湾台北市

代理机构：

隆天国际知识产权代理有限公司

代理人：

王玉双

优先权：

CN200510129510.X

主分类号：

G01R31/44

IPC分类号：

G01R31/44 G01R31/00 G11B20/18