一种薄膜晶体管与液晶显示器的制造方法
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摘要

本发明提供一种薄膜晶体管的制造方法,首先在基板上形成一图案化介电层,然后在基板上形成一金属层,并覆盖图案化介电层。接着对金属层进行一平坦化步骤,直到暴露出图案化介电层的表面,其中保留下来的金属层即是栅极。之后,在图案化介电层与栅极上形成栅绝缘层,并且在栅极上方的栅绝缘层上形成半导体层。最后,在半导体层上形成源极以及漏极。本发明因采用镶嵌工序替代现有技术中光刻与刻蚀的工序,增加金属层的材质选择性。此外,在薄膜晶体管的制造过程中使用镶嵌工序,便能采用电阻值较低的金属,因而提高了薄膜晶体管以及应用此薄膜晶体管的液晶显示器的效能。

基本信息
专利标题 :
一种薄膜晶体管与液晶显示器的制造方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1819125A
申请号 :
CN200510135941.7
公开(公告)日 :
2006-08-16
申请日 :
2005-12-29
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
李豪捷徐启训
申请人 :
广辉电子股份有限公司
申请人地址 :
台湾省桃园县
代理机构 :
北京三友知识产权代理有限公司
代理人 :
陶海萍
优先权 :
CN200510135941.7
主分类号 :
H01L21/336
IPC分类号 :
H01L21/336  H01L21/84  G02F1/1368  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/02
半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21/04
至少具有一个跃变势垒或表面势垒的器件,例如PN结、耗尽层、载体集结层
H01L21/18
器件有由周期表Ⅳ族元素或含有/不含有杂质的AⅢBⅤ族化合物构成的半导体,如掺杂材料
H01L21/334
制造单极型器件的台阶式工艺
H01L21/335
场效应晶体管
H01L21/336
带有绝缘栅的
法律状态
2009-01-14 :
授权
2006-10-11 :
实质审查的生效
2006-08-16 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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