分析装置
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摘要
在进行与试剂(25)反应的试料的分析的分析装置中，具备分析用具(10)、红外线传感器(1)、及温度控制部(5)；在分析用具(10)的内部，具备使试料和试剂(25)反应的反应室(24)、及通过通电而发热的发热体(33)。红外线传感器(1)在分析用具(10)的外部配置成接收从反应室(24)辐射的红外线(9)，并将与接收的红外线(9)的量对应的信号输出给温度控制部(5)。根据来自红外线传感器(1)的信号，由温度控制部(5)来调节发热体(33)的发热量。
基本信息
专利标题 ：
分析装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101031800A
申请号 ：
CN200580033375.7
公开（公告）日 ：
2007-09-05
申请日 ：
2005-09-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
藤本浩司
申请人 ：
爱科来株式会社
申请人地址 ：
日本京都府
代理机构 ：
永新专利商标代理有限公司
代理人 ：
陈英俊
优先权 ：
CN200580033375.7
主分类号 ：
G01N35/00
IPC分类号 ：
G01N35/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N35/00
不限于用G01N1/00至G01N33/00中任何单独一组提供的方法或材料所进行的自动分析；及材料的传送
法律状态
2011-01-05 ：
授权
2007-10-31 ：
实质审查的生效
2007-09-05 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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