对存储介质上的光学效应的分析
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
本发明公开了一种用于分析光学记录介质上的光学效应的质量的方法，以及该方法与优化写入策略和对于光学记录介质分析写入质量相结合的应用。该方法包括以下步骤：确定所测得的光学信号(61)和标称光学信号(60)的波形，以及从所测得的波形与标称波形中的差异(62－65)计算幅度差参数。因此，所述光学效应的质量量度可以从该幅度差参数确定。该方法的应用包括(但不局限于)：用于从光学存储介质上读取光学效应的设备，其具有用于确定幅度差参数的装置；光学记录仪器，其具有用于调节写入策略中的功率电平和/或电平持续时间的装置；以及用于控制光学存储仪器的IC。
基本信息
专利标题 ：
对存储介质上的光学效应的分析
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101084540A
申请号 ：
CN200580043822.7
公开（公告）日 ：
2007-12-05
申请日 ：
2005-12-14
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
C·A·弗舒伦
申请人 ：
皇家飞利浦电子股份有限公司
申请人地址 ：
荷兰艾恩德霍芬
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
李亚非
优先权 ：
CN200580043822.7
主分类号 ：
G11B7/004
IPC分类号 ：
G11B7/004 G11B7/125
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11B
基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储
G11B7/00
用光学方法，例如，用光辐射的热射束记录用低功率光束重现的；为此所用的记录载体
G11B7/004
记录、重现或抹除方法；为此所用的读、写或抹除电路
法律状态
2009-07-29 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
2008-02-13 ：
实质审查的生效
2007-12-05 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
