具有同步仪器的自动测试系统
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摘要

一种具有多个仪器的测试系统。一些仪器用作控制仪器,而其他仪器用作受控仪器。每个仪器分别包括时钟信号发生器,根据基准时钟,该时钟信号发生器使一个或者多个本地时钟同步。该基准时钟是可以廉价、精确产生而且可以分配到所有仪器的低频时钟。在仪器之间设置通信链路。使用于交换时间信息的仪器中的时序电路同步,以建立公共时间基准。此后,通过对每个消息附加反映相对于公共时间基准表示的时间的时间戳,各仪器通过通信链路异步传送时间相关命令或者状态信息。该测试系统包括含有码型发生器、用于将命令消息送到模拟仪器的数字仪器,该模拟仪器不需要包括码型发生器。该体系结构简化了模拟仪器的设计,而且避免了在数字仪器的码型速率发生变化时重新设计模拟仪器。

基本信息
专利标题 :
具有同步仪器的自动测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN101103278A
申请号 :
CN200580046925.9
公开(公告)日 :
2008-01-09
申请日 :
2005-11-22
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
彼得·A·莱切特西恩·D·阮
申请人 :
泰拉丁公司
申请人地址 :
美国马萨诸塞州
代理机构 :
中原信达知识产权代理有限责任公司
代理人 :
谷惠敏
优先权 :
CN200580046925.9
主分类号 :
G01R31/319
IPC分类号 :
G01R31/319  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/319
••••测试器硬件,即输出处理电路
法律状态
2012-01-11 :
授权
2008-02-27 :
实质审查的生效
2008-01-09 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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