对微电子电路的计量表征
专利权的终止
摘要

本发明涉及一种平面对象的偏振测量方法和装置,该平面对象具有规则重复的图形并形成栅格线。基于本发明的方法,在入射角θ1以及第一方位角φ1下在零阶进行第一测量,在入射角θ2以及第二方位角φ2下在零阶进行第二测量,对入射光束的偏振态进行调制,并且对每次测量分析反射光束的偏振态,对真实对象的模型对象计算理论偏振测量数据,该模型对象包括利用电磁学理论可调节的参数。通过对于可调节参数的不同值将测量值与理论偏振测量数据反复进行比较来表征对象。

基本信息
专利标题 :
对微电子电路的计量表征
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN101107495A
申请号 :
CN200580047167.2
公开(公告)日 :
2008-01-16
申请日 :
2005-12-22
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
A·德马蒂诺B·德雷维翁
申请人 :
综合工科学校;科学研究国家中心
申请人地址 :
法国帕莱索塞德科斯
代理机构 :
北京市中咨律师事务所
代理人 :
杨晓光
优先权 :
CN200580047167.2
主分类号 :
G01B11/06
IPC分类号 :
G01B11/06  G01J4/00  G01N21/21  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B11/06
用于计量厚度
法律状态
2012-02-29 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101192316309
IPC(主分类) : G01B 11/06
专利号 : ZL2005800471672
申请日 : 20051222
授权公告日 : 20100210
终止日期 : 20101222
2010-02-10 :
授权
2008-03-05 :
实质审查的生效
2008-01-16 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332