高压IGCT逆变电路的压接均匀度检验措施及其独立测试方法
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摘要
本发明涉及高压变频器的IGCT逆变电路压接均匀度检验措施和独立测试方法。属于IGCT高压变频器制造技术领域。本发明在压接中特别采用压力试纸真实检验压力分布情况，根据试纸颜色分布状况判断压力分布是否均匀，并且重新调整压接方向。在所有压接好的逆变电路安装好以后，在逆变电路中针对所有IGCT分别构造出单管测试电路拓扑，采用专门的控制电路发出特定频率、占空比和数量的脉冲，记录下每个IGCT对应的电压和电流波形，并通过分析比较波形就可以在变频器控制系统不参与的条件下独立检验逆变电路的性能，从电气方面判断压接质量，同时便于调整吸收电路参数。
基本信息
专利标题 ：
高压IGCT逆变电路的压接均匀度检验措施及其独立测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1862269A
申请号 ：
CN200610038468.5
公开（公告）日 ：
2006-11-15
申请日 ：
2006-02-23
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
杨志勇李冰杨志朱虎冯永峰张雪芹赵争鸣
申请人 ：
国电南京自动化股份有限公司;清华大学
申请人地址 ：
210003江苏省南京市新模范马路38号
代理机构 ：
南京纵横知识产权代理有限公司
代理人 ：
孙永生
优先权 ：
CN200610038468.5
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R31/327
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2011-06-29 ：
授权
2007-01-10 ：
实质审查的生效
2006-11-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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