振镜式快扫描电光取样的THz检测系统和方法
发明专利申请公布后的驳回
摘要
本发明公开了一种振镜式快扫描电光取样的THz检测系统和检测方法,该检测系统包括THz波的扫描延迟系统、THz波时域电光取样系统、信号检测与数据处理系统,其特征在于THz波的扫描延迟系统由现有的电动平移台扫描延迟系统替换成振镜式快扫描延迟系统,振镜式快扫描延迟系统包括两块振镜、振镜底座、扬声器、支杆、平移台,扬声器通过支杆安装到平移台上,振镜固定在振镜底座上,振镜底座再固定在扬声器震荡腔的振动面上。检测方法是在上述检测系统基础上实现的,振镜式快扫描延迟系统中的扬声器震荡腔的振动面在控制信号的作用下作往复运动,从而造成THz波的延迟,进而实现电光取样,再通过信号检测和处理数据,实现快速的THz电光取样探测。
基本信息
专利标题 :
振镜式快扫描电光取样的THz检测系统和方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1815187A
申请号 :
CN200610057110.7
公开(公告)日 :
2006-08-09
申请日 :
2006-03-09
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
赵国忠
申请人 :
首都师范大学
申请人地址 :
100037北京市海淀区西三环北路105号
代理机构 :
北京诺孚尔知识产权代理有限责任公司
代理人 :
庞涛
优先权 :
CN200610057110.7
主分类号 :
G01N21/27
IPC分类号 :
G01N21/27 G01N21/17
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色;光谱性质,即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/27
利用光电检测
法律状态
2011-09-14 :
发明专利申请公布后的驳回
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101183760875
IPC(主分类) : G01N 21/27
专利申请号 : 2006100571107
公开日 : 20060809
号牌文件序号 : 101183760875
IPC(主分类) : G01N 21/27
专利申请号 : 2006100571107
公开日 : 20060809
2006-10-11 :
实质审查的生效
2006-08-09 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN1815187A.PDF
PDF下载