一种评估电路板腐蚀风险的方法和系统
发明专利申请公布后的驳回
摘要
本发明涉及电子设备的测试技术领域,尤其涉及一种评估电路板腐蚀风险的方法和系统。该方法通过测量电路板的表面绝缘电阻值,并与电路板被腐蚀风险判别映射比较,获取电路板被腐蚀的风险等级。本发明还提出了一种现场快速评估电路板腐蚀风险的系统,包括电路板、测试模块和判别模块,测试模块测量电路板的表面绝缘电阻,并将其发送给判别模块,判别模块比较绝缘电阻值并与腐蚀风险判别映射比较得到电路板被腐蚀的风险等级。本发明通过现场容易测量的表面绝缘电阻表征电路板被腐蚀风险,可以在现场快速评估电路板的腐蚀风险,在及时对电路板采取保护措施方面有良好的效果。
基本信息
专利标题 :
一种评估电路板腐蚀风险的方法和系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN101038263A
申请号 :
CN200610057531.X
公开(公告)日 :
2007-09-19
申请日 :
2006-03-13
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
徐焰陈普养
申请人 :
华为技术有限公司
申请人地址 :
518129广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼
代理机构 :
北京挺立专利事务所
代理人 :
皋吉甫
优先权 :
CN200610057531.X
主分类号 :
G01N27/04
IPC分类号 :
G01N27/04 G01N17/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/00
用电、电化学或磁的方法测试或分析材料
G01N27/02
通过测试阻抗
G01N27/04
通过测试电阻
法律状态
2010-09-22 :
发明专利申请公布后的驳回
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101007827445
IPC(主分类) : G01N 27/04
专利申请号 : 200610057531X
公开日 : 20070919
号牌文件序号 : 101007827445
IPC(主分类) : G01N 27/04
专利申请号 : 200610057531X
公开日 : 20070919
2007-11-14 :
实质审查的生效
2007-09-19 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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