特性检查用开关元件及特性检查方法
专利权的视为放弃
摘要
本发明的目的在于:提供不受液晶显示面板上的配置场所制约,防止因制造时和处理时发生的静电引起的损伤,能够进行正确的特性检查的特性检查用开关元件。在特性检查用薄膜晶体管10的源极S、栅极G及漏极D中,各自连接作为电极端子的源端子11、栅端子12及漏端子13。而且,为了通用化各自的电极端子的电位,将电极端子通过电位通用布线50与电位通用端子20连接。在进行特性检查时,通过在电极端子·电位通用端子20之间施加电压,熔断电位通用布线50。
基本信息
专利标题 :
特性检查用开关元件及特性检查方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1873510A
申请号 :
CN200610068249.1
公开(公告)日 :
2006-12-06
申请日 :
2006-03-22
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
远藤厚志中畑匠
申请人 :
三菱电机株式会社
申请人地址 :
日本东京都
代理机构 :
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 :
浦柏明
优先权 :
CN200610068249.1
主分类号 :
G02F1/136
IPC分类号 :
G02F1/136 G02F1/1343 G02F1/133 H01L29/786 H01L21/66
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02F
用于控制光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置,例如转换、选通、调制或解调,上述器件或装置的光学操作是通过改变器件或装置的介质的光学性质来修改的;用于上述操作的技术或工艺;变频;非线性光学;光学逻辑元件;光学模拟/数字转换器
G02F1/00
控制来自独立光源的光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置,例如,转换、选通或调制;非线性光学
G02F1/01
对强度、相位、偏振或颜色的控制
G02F1/13
基于液晶的,例如单位液晶显示单元
G02F1/133
构造上的设备;液晶单元的工作;电路装置
G02F1/136
结构上与一半导体层或基片相结合的液晶单元,例如形成集成电路部分的液晶单元
法律状态
2009-03-25 :
专利权的视为放弃
2007-01-31 :
实质审查的生效
2006-12-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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