一种用于α、β表面沾污仪的检定架
专利权的终止
摘要
本实用新型提供了一种用于检定α、β表面沾污仪的检定架,检定架含有框架、探头、依托架、标准源托放面板、设置有托放槽的置换式探头托放面板和剪形升降台,框架的四周框柱上连接有固定端角,框柱上还固定设置有刻度尺,探头依托器与固定端角连接,标准源托放面板固定设置在剪形升降台上,置换式探头托放面板设置在上框架上。本实用新型的一种用于α、β表面沾污仪的检定架,在操作时有效保护标准源不被损坏,结构简单,操作快捷,可随检定、校准场所的不同,灵活使用,提高检定、校准的工作效率。
基本信息
专利标题 :
一种用于α、β表面沾污仪的检定架
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620035543.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-09-08
授权号 :
CN200986593Y
授权日 :
2007-12-05
发明人 :
郑慧成晶文德智卓仁鸿胡俊陈志赟薛秀章
申请人 :
中国工程物理研究院核物理与化学研究所
申请人地址 :
621900四川省绵阳市919信箱215分箱
代理机构 :
中国工程物理研究院专利中心
代理人 :
韩志英
优先权 :
CN200620035543.8
主分类号 :
G01T7/00
IPC分类号 :
G01T7/00 G01T1/169 G01T1/185
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T7/00
辐射计量仪器的附件
法律状态
2016-11-02 :
专利权的终止
专利权有效期届满号牌文件类型代码 : 1611
号牌文件序号 : 101685482145
IPC(主分类) : G01T 7/00
专利号 : ZL2006200355438
申请日 : 20060908
授权公告日 : 20071205
终止日期 : 无
号牌文件序号 : 101685482145
IPC(主分类) : G01T 7/00
专利号 : ZL2006200355438
申请日 : 20060908
授权公告日 : 20071205
终止日期 : 无
2007-12-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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