放射性表面沾污筛查分析方法
实质审查的生效
摘要
本发明属于放射性物质分析技术领域,涉及一种放射性表面沾污的筛查分析方法。所述的分析方法包括如下步骤:(1)使用水溶性聚乙烯醇纤维材料进行放射性表面沾污擦拭采样;(2)将擦拭样品用氢氧化钠溶液完全溶解后加入新配制的氢氧化物沉淀悬浊液,混匀后离心,沉淀经进一步放化分离纯化及制源后,进行全样品分析测量;(3)将擦拭样品用二甲基亚砜溶液溶解,超声波振荡后滤膜过滤,保留滤膜,制源后用于热粒子分析测量。利用本发明的放射性表面沾污的筛查分析方法,能够快速、高效的分离回收放射性表面沾污擦拭样品上的附着微粒并进行测量。
基本信息
专利标题 :
放射性表面沾污筛查分析方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114371050A
申请号 :
CN202111435908.1
公开(公告)日 :
2022-04-19
申请日 :
2021-11-29
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
王亚东马彦王路生马莉娜杨永刚张辉宋丽娟罗茂益戴雄新李鹏翔任晓娜
申请人 :
中国辐射防护研究院
申请人地址 :
山西省太原市小店区学府街102号
代理机构 :
北京天悦专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
任晓航
优先权 :
CN202111435908.1
主分类号 :
G01N1/28
IPC分类号 :
G01N1/28 G01N1/34 G01N1/38 G01N1/04 G01N1/10 G01N33/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N1/00
取样;制备测试用的样品
G01N1/28
测试用样品的制备
法律状态
2022-05-06 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 1/28
申请日 : 20211129
申请日 : 20211129
2022-04-19 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载