一种烤箱温度监控系统
专利权的终止
摘要

本实用新型涉及一种烤箱温度监控系统,尤其涉及一种应用于半导体封装测试行业中的后道烤箱温度监控系统。本实用新型包括:至少一个位于烤箱中的温度传感器;与所述温度传感器连接的至少一个模数转换器;与所述模数转换器连接的至少一个逻辑控制器;连接所述逻辑控制器的数据服务器,所述数据服务器包括读写模块和数据库模块;以及连接所述数据服务器的用户端,所述用户端包括读取模块。本实用新型提供的烤箱温度监控系统成本较低且便于时时监控以及进行历史资料查询等数据资料的管理。

基本信息
专利标题 :
一种烤箱温度监控系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620044285.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-07-27
授权号 :
CN200997065Y
授权日 :
2007-12-26
发明人 :
余龙明
申请人 :
威宇科技测试封装有限公司
申请人地址 :
201203上海市浦东新区张江高科技园区郭守敬路669号
代理机构 :
上海专利商标事务所有限公司
代理人 :
陈亮
优先权 :
CN200620044285.X
主分类号 :
G05B19/048
IPC分类号 :
G05B19/048  H01L21/00  F27D21/00  F27B17/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G05
控制;调节
G05B
一般的控制或调节系统;这种系统的功能单元;用于这种系统或单元的监视或测试装置
G05B19/00
程序控制系统
G05B19/02
电的
G05B19/04
除数字控制外的程序控制,即顺序控制器或逻辑控制器
G05B19/048
监视;安全装置
法律状态
2016-09-21 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101679154616
IPC(主分类) : G05B 19/048
专利号 : ZL200620044285X
申请日 : 20060727
授权公告日 : 20071226
终止日期 : 20150727
2009-02-18 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
变更事项 : 专利权人
变更前 : 威宇科技测试封装有限公司
变更后 : 日月光封装测试(上海)有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 上海市浦东新区张江高科技园区郭守敬路669号,邮编 : 201203
变更后 : 上海市浦东张江高科技园区郭守敬路669号,邮编 : 201203
2007-12-26 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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