基于激光回馈效应的细微颗粒测量装置
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种基于激光回馈效应的细微颗粒测量装置,包括单模氦氖激光器,凹面全反镜,聚光透镜,光探测器,放大器及高速数模转换数据采集卡装置,示波器,电脑,凹面全反镜焦点设于聚光透镜的焦点,凹面全反镜和聚光透镜的共焦后与激光谐振腔形成附加谐振腔,聚光透镜后面的单模氦氖激光器经光探测器与放大器A相连接,放大器通过高速数模转换数据采集卡装置将数据传送至示波器和电脑。该装置采用氦氖激光器附加凹面全反镜和会聚透镜共焦式设计的附加谐振腔,在共焦测量敏感区对于不同尺寸和不同运动速度的单颗粒测量,并可以测量单颗粒参数,简单易行,准确可靠,在单颗粒和小颗粒测量等方面具有广泛应用前景。

基本信息
专利标题 :
基于激光回馈效应的细微颗粒测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620048285.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-11-29
授权号 :
CN200975970Y
授权日 :
2007-11-14
发明人 :
孙国强郑继红郑刚
申请人 :
上海理工大学
申请人地址 :
200093上海市杨浦区军工路516号
代理机构 :
上海申汇专利代理有限公司
代理人 :
吴宝根
优先权 :
CN200620048285.7
主分类号 :
G01N15/00
IPC分类号 :
G01N15/00  G01N21/47  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性;测试多孔材料的渗透性,孔隙体积或者孔隙表面积
法律状态
2012-02-08 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101180321518
IPC(主分类) : G01N 15/00
专利号 : ZL2006200482857
申请日 : 20061129
授权公告日 : 20071114
终止日期 : 20101129
2007-11-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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