兼顾取向和非取向晶体分析的XRD样品台装置
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种兼顾取向性和非取向性晶体试样分析的XRD样品台装置。它保留了X衍射仪常规测试的样品台主体,又在同底座的一侧增加了适合取向性样品测试的旋转定向装置,其装置由可控调速直流步进电机、镶有永磁体的轴套、可取下来装样品的钢件吸盘和有孔的刻度盘组成。在安装电机支撑架时保证了吸盘端面处于XRD聚焦圆的切线上,因而不需要重新调节仪器零点,仅改变试样装填方式,通过键盘操作就可随时选择常规测试或旋转定向测试,实现涵盖粉末多晶的常规分析和取向性样品的评价以及单晶定向功能。本实用新型克服了现有仪器对取向性晶体快速评价的不足,也解决了现有单晶定向仪对未知晶轴、大晶向偏离角单晶定向测试的难题。

基本信息
专利标题 :
兼顾取向和非取向晶体分析的XRD样品台装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620079376.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-07-13
授权号 :
CN2916626Y
授权日 :
2007-06-27
发明人 :
郭振琪
申请人 :
郭振琪
申请人地址 :
710069陕西省西安市碑林区太白北路西北大学新村31楼202号
代理机构 :
西安通大专利代理有限责任公司
代理人 :
刘国智
优先权 :
CN200620079376.7
主分类号 :
G01N23/207
IPC分类号 :
G01N23/207  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/207
衍射,例如,利用处于中心位置的探针以及安放在周围的一个或多个可移动的检测器
法律状态
2014-09-03 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101586715040
IPC(主分类) : G01N 23/207
专利号 : ZL2006200793767
申请日 : 20060713
授权公告日 : 20070627
终止日期 : 20130713
2007-06-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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