测量涂覆量的方法和预测溶出行为的方法
专利权的终止
摘要

使用近红外光谱的评测方法通常具有低的特异性,并特别在痕量成分的评测中遇到困难。通过近红外光谱法精确测量涂覆物的量一直是困难的。为解决此问题,根据涂在涂覆对象上的添加剂在800至1100纳米波长范围内的光吸收或散射测量施用到涂覆对象(例如颗粒或未涂覆片剂)上的涂覆物的量。优选使用聚乙二醇或含长链烃基的化合物作为该添加剂。

基本信息
专利标题 :
测量涂覆量的方法和预测溶出行为的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN101107510A
申请号 :
CN200680002747.4
公开(公告)日 :
2008-01-16
申请日 :
2006-02-02
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
横山诚鹈饲宏治
申请人 :
卫材R&D管理有限公司
申请人地址 :
日本东京都
代理机构 :
北京市中咨律师事务所
代理人 :
林柏楠
优先权 :
CN200680002747.4
主分类号 :
G01N21/35
IPC分类号 :
G01N21/35  A61K9/36  A61K47/10  A61K47/12  A61K47/14  A61K47/34  A61K47/38  G01N33/15  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色;光谱性质,即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应,例如原子吸收光谱术
G01N21/35
利用红外光
法律状态
2017-03-29 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101709958248
IPC(主分类) : G01N 21/35
专利号 : ZL2006800027474
申请日 : 20060202
授权公告日 : 20100519
终止日期 : 20160202
2010-05-19 :
授权
2008-03-05 :
实质审查的生效
2008-01-16 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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