利用放射源的定时校准
专利权的终止
摘要
诊断成像设备中的辐射检测器(12)的缸筒(10)检测辐射对,辐射对具有对应的电子检测器信道(22),这些电子检测器信道(22)具有非均匀时变时延。并发地发射辐射对的多个校准辐射源(20)安装在缸筒内的已知位置。时间校正处理器(46)利用校准源的已知位置来确定来自校准源的辐射对的相对检测时间中的误差,并且利用所确定的误差产生校正,这种校正用于来自注射到成像受治疗者的放射性药剂的辐射对的相对检测时间。
基本信息
专利标题 :
利用放射源的定时校准
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN101111781A
申请号 :
CN200680003346.0
公开(公告)日 :
2008-01-23
申请日 :
2006-01-13
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
G·穆莱纳J·S·卡普
申请人 :
皇家飞利浦电子股份有限公司
申请人地址 :
荷兰艾恩德霍芬
代理机构 :
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 :
李亚非
优先权 :
CN200680003346.0
主分类号 :
G01T1/29
IPC分类号 :
G01T1/29
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/175
电源电路
G01T1/29
对辐射束流的测量,例如,测量射束位置或截面;辐射的空间分布的测量
法律状态
2017-03-01 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101706027239
IPC(主分类) : G01T 1/29
专利号 : ZL2006800033460
申请日 : 20060113
授权公告日 : 20110209
终止日期 : 20160113
号牌文件序号 : 101706027239
IPC(主分类) : G01T 1/29
专利号 : ZL2006800033460
申请日 : 20060113
授权公告日 : 20110209
终止日期 : 20160113
2011-02-09 :
授权
2008-04-02 :
实质审查的生效
2008-01-23 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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