一种利用贝叶斯分析搜寻本底中弱放射源的方法
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摘要

本发明公开了一种利用贝叶斯分析搜寻本底中弱放射源的方法,属于辐射测定领域,尤其是弱信号识别领域,目的在于解决弱信号源分析搜索的难题。其包括如下步骤:(1)建立贝叶斯分析模型,根据数据样本与待推断参数的关系,建立似然函数;(2)提供待推断参数的先验分布和数据;(3)通过蒙特卡罗推断,获得参数的推断分布;基于推断分布,得到本底中弱放射源存在的概率。发明人基于改进后的方法,利用贝叶斯分析对采集的数据进行分析,进而推断源的位置和与探测器运动直线之间的距离,从而给出源是否存在、源的坐标、源强等关键信息。本申请能够用于弱信号的分析搜索,有利于提高搜索效率,得到弱信号的关键信息,具有重要的应用价值。

基本信息
专利标题 :
一种利用贝叶斯分析搜寻本底中弱放射源的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112462408A
申请号 :
CN202011416797.5
公开(公告)日 :
2021-03-09
申请日 :
2020-12-07
授权号 :
CN112462408B
授权日 :
2022-04-29
发明人 :
张宏俊文继莫钊洪任忠国许清华汪小东熊忠华帅茂兵
申请人 :
中国工程物理研究院材料研究所
申请人地址 :
四川省绵阳市江油市华丰新村9号
代理机构 :
成都九鼎天元知识产权代理有限公司
代理人 :
徐静
优先权 :
CN202011416797.5
主分类号 :
G01T1/169
IPC分类号 :
G01T1/169  G01T1/167  G06N7/00  G06N5/04  G06F17/18  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
G01T1/169
污染的表面面积的探查和定位
法律状态
2022-04-29 :
授权
2021-03-26 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01T 1/169
申请日 : 20201207
2021-03-09 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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