可测试电子电路
专利权的终止
摘要
一种电子电路，包括：连接到电路的数据端(11a－c)、以及连接到功能电路(10)的触发器组(12a－c)。每一个组(12a－c)都具有用于对该组中的触发器提供时钟的时钟输入端。每一个组(12a－c)都可以在移位配置和功能配置之间切换，以便串行地从数据端移入测试数据，而且并行地用于分别将信号提供给功能电路(10)和/或分别从功能电路(10)接收信号。测试控制电路(16)可以在功能模式、测试移位模式和测试正常模式之间切换。测试控制电路(16)连接到触发器组(12a－c)，以在功能模式下将该组切换到功能配置，以及在测试移位模式下将该组切换到移位配置。
基本信息
专利标题 ：
可测试电子电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101163978A
申请号 ：
CN200680003809.3
公开（公告）日 ：
2008-04-16
申请日 ：
2006-01-31
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
埃尔韦·弗勒里让－马克·延努
申请人 ：
NXP股份有限公司
申请人地址 ：
荷兰艾恩德霍芬
代理机构 ：
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 ：
朱进桂
优先权 ：
CN200680003809.3
主分类号 ：
G01R31/317
IPC分类号 ：
G01R31/317 G01R31/3185
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/317
••数字电路的测试
法律状态
2015-03-25 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101602904552
IPC(主分类) : G01R 31/317
专利号 : ZL2006800038093
申请日 : 20060131
授权公告日 : 20100825
终止日期 : 20140131
号牌文件序号 : 101602904552
IPC(主分类) : G01R 31/317
专利号 : ZL2006800038093
申请日 : 20060131
授权公告日 : 20100825
终止日期 : 20140131
2010-08-25 ：
授权
2008-06-11 ：
实质审查的生效
2008-04-16 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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