用于光电检测器防止孔间光交叉污染装置
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种用于光电检测器防止孔间光交叉污染装置,它包括纵截面为V形结构的定位盘。在所述定位盘的中部沿纵向贯穿开设有与光电检测器检测孔相对应的导光通道;在定位盘上设置有与光电检测器相结合的连接件。本实用新型优点在于通过在光电检测器下方安装一个定位盘,并在定位盘的中部沿纵向贯穿开设有与光电检测器检测孔相对应的导光通道;因此在对微孔板微孔内介质测定时,仅限被测孔发出的光可以进入检测器,从而实现有效隔离微孔板相邻各孔对被测孔的光干扰目的,大大提高了测量结果的准确性。

基本信息
专利标题 :
用于光电检测器防止孔间光交叉污染装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720092368.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-10-25
授权号 :
CN201083684Y
授权日 :
2008-07-09
发明人 :
王超刘聪安维梁亮乔建勇侯剑平徐真邓艳芳刘耀基王果孙峰马宝彬
申请人 :
安图实验仪器(郑州)有限公司
申请人地址 :
450016河南省郑州市经济技术开发区航海东路1356号创业中心2号楼
代理机构 :
郑州异开专利事务所
代理人 :
韩华
优先权 :
CN200720092368.0
主分类号 :
G01N21/15
IPC分类号 :
G01N21/15  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
G01N21/15
防止光学装置的部件的沾污或光路的障碍
法律状态
2017-11-24 :
专利权的终止
专利权有效期届满IPC(主分类) : G01N 21/15
申请日 : 20071025
授权公告日 : 20080709
2008-07-09 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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