一种复合位移式连读分析RoHS指令痕量元素的检测分析仪
专利权的终止
摘要

一种复合位移式连读分析RoHS指令痕量元素的检测分析仪,其特征在于它包括动态真空分光测量室、X射线入射法兰接口、外电源与信息交换接口、真空管路接口、抽真空部件、样品室、送样器、X射线激发源、供电电源、信息采集与处理器、仪器系统控制器和上位计算机;其优越性在于:①实现了一定波长范围的连续衍射分光与探测;②对特征X射线波长介于0.97到3.84的元素具有连续检测分析功能,适用于RoHS指令元素的检测分析;③具有更高的衍射强度和分辨本领,其衍射分光效率能提高三至四个数量级,其波长分辨率好到千分位量级;④衍射分光与探测机构结构简单,可降低成本、易于推广应用。

基本信息
专利标题 :
一种复合位移式连读分析RoHS指令痕量元素的检测分析仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720095924.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-04-28
授权号 :
CN201034952Y
授权日 :
2008-03-12
发明人 :
宋欣姜文贵杜立功戚士元徐志诚
申请人 :
天津中泽科技有限公司
申请人地址 :
300457天津市天津开发区恂园北街6号
代理机构 :
国嘉律师事务所
代理人 :
王里歌
优先权 :
CN200720095924.X
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2013-08-21 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101508923740
IPC(主分类) : G01N 23/223
专利号 : ZL200720095924X
申请日 : 20070428
授权公告日 : 20080312
终止日期 : 20120428
2013-03-20 :
文件的公告送达
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101535794524
IPC(主分类) : G01N 23/223
专利号 : ZL200720095924X
专利申请号 : 200720095924X
收件人 : 天津中泽科技有限公司
文件名称 : 专利权终止通知书
2012-07-25 :
文件的公告送达
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101429934705
IPC(主分类) : G01N 23/223
专利号 : ZL200720095924X
专利申请号 : 200720095924X
收件人 : 天津中泽科技有限公司
文件名称 : 缴费通知书
2008-03-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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