一种利用两相流颗粒相的光散射测量颗粒相浓度的装置
专利权的终止
摘要
本实用新型提供了一种利用两相流颗粒相的光散射测量颗粒相浓度的装置，主要由前连接件1、气腔件2、后腔件3和手动校准器4组成，其特征在于：前连接件1的端面法兰11和气腔件2的对接法兰21配合紧固连接，后腔件3的连接器31和气腔件2的对接法兰21固定连接，手动校准时，拆下前连接件1，手动校准器4的校准器座42和气腔件2的对接法兰21配合紧固连接即可使用，本实用新型结构紧凑，性能可靠，效果好，方便适用，广泛适用于利用两相流颗粒相的光散射测量颗粒相浓度领域。
基本信息
专利标题 ：
一种利用两相流颗粒相的光散射测量颗粒相浓度的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200720171070.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2007-11-27
授权号 ：
CN201130142Y
授权日 ：
2008-10-08
发明人 ：
尉士民
申请人 ：
深圳市彩虹谷科技有限公司
申请人地址 ：
518034广东省深圳市福田区新闻路中房景苑大厦B座1405
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN200720171070.9
主分类号 ：
G01N15/06
IPC分类号 ：
G01N15/06 G01N21/51
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/06
测试悬浮颗粒的浓度
法律状态
2017-12-26 ：
专利权的终止
专利权有效期届满IPC(主分类) : G01N 15/06
申请日 : 20071127
授权公告日 : 20081008
申请日 : 20071127
授权公告日 : 20081008
2008-10-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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