弱散射纳米颗粒的外差动态光散射测量系统及方法
公开
摘要
本发明涉及一种弱散射纳米颗粒的外差动态光散射测量系统，包括入射光源、分光片、样品池、光纤耦合器、探测器和信号处理器，所述入射光源用于产生入射光；所述分光片用于从所述入射光分出部分光作为参考光；所述样品池用于盛放纳米颗粒样品溶液，并设置在所述入射光的光路上；所述光纤耦合器用于接收所述参考光和所述纳米颗粒的散射光，并使所述参考光和散射光耦合得到外差光信号；所述探测器接收所述外差光信号并转换为外差电信号；所述信号处理器接收所述外差电信号并拟合得到散射光的电场自相关函数，根据所述电场自相关函数计算输出纳米颗粒的粒径信息。能够更准确地测量弱散射纳米颗粒的粒径信息，同样可以准确测量普通纳米颗粒的粒径信息。
基本信息
专利标题 ：
弱散射纳米颗粒的外差动态光散射测量系统及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114577680A
申请号 ：
CN202210114495.5
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-01-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
韩鹏彭艺邱健彭力骆开庆刘冬梅
申请人 ：
华南师范大学
申请人地址 ：
广东省广州市番禺区外环西路378号华南师范大学物理与电信工程学院
代理机构 ：
广州骏思知识产权代理有限公司
代理人 ：
张金龙
优先权 ：
CN202210114495.5
主分类号 ：
G01N15/00
IPC分类号 ：
G01N15/00 G01N15/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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