大动态脉冲中子测量系统
授权
摘要

本发明公开了一种大动态脉冲中子测量系统,包括用于放置目标中子源的靶仓、样品搭载组件,其包括真空隔离直筒和位于该真空隔离直筒内的样品固定件,并在驱动机构的驱动下直线移动以靠近或远离位于靶仓内的目标中子源,样品固定件上具有至少两种直径规格和/或深度规格的搭载孔,搭载孔用于固定待活化样。采用以上方案,通过可移动的真空隔离直筒,以及具有多种规格搭载孔的样品固定件,满足大范围中子产额测量需求,且精准控制各步时间,大大提高测量精度和效率。

基本信息
专利标题 :
大动态脉冲中子测量系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922368855.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-25
授权号 :
CN211453969U
授权日 :
2020-09-08
发明人 :
宋仔峰易涛肖云青唐琦詹夏宇刘中杰陈家斌
申请人 :
中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请人地址 :
四川省绵阳市游仙区绵山路64号
代理机构 :
重庆为信知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
周云涛
优先权 :
CN201922368855.0
主分类号 :
G01T3/00
IPC分类号 :
G01T3/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T3/00
中子辐射的测量
法律状态
2020-09-08 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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