中子能谱测量系统
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摘要
本实用新型提供一种中子能谱测量系统,属于中子能谱测量技术领域,中子能谱测量系统包括支架、中子探测器以及由外向内逐层套设的N个球形空腔,N为大于等于2的整数,支架包括支撑座以及与支撑座连接的承重柱,承重柱的端部伸入球形空腔的几何中心与第N球形空腔固定,承重柱分别与第N球形空腔外的N‑1个球形空腔连接;每个球形空腔分别由至少一个子腔拼接而成,组成同一球形空腔的相邻子腔之间固定;中子探测器包括第一中子探测器和/或第二中子探测器,第一中子探测器设置在第N球形空腔的几何中心,第二中子探测器包括多个,多个第二中子探测器在任一球形空腔的周向分布。能满足多样化探测需求,探测设备高度整合,便携性强,适用范围广。
基本信息
专利标题 :
中子能谱测量系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920499182.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-04-11
授权号 :
CN210376708U
授权日 :
2020-04-21
发明人 :
杨剑波庹先国李锐成毅王洪辉王磊刘明哲
申请人 :
成都理工大学
申请人地址 :
四川省成都市成华区二仙桥东三路1号
代理机构 :
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
周宇
优先权 :
CN201920499182.X
主分类号 :
G01T3/00
IPC分类号 :
G01T3/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T3/00
中子辐射的测量
法律状态
2020-04-21 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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