一种质子绝对能谱测量装置
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摘要

本实用新型公开了一种质子绝对能谱测量装置。所述质子绝对能谱测量装置包括:从瞄准激光发出端到实验置靶端依次设置的汤姆逊离子谱仪和辐射变色膜片堆栈;辐射变色膜片堆栈的中心开设有中心通孔;中心通孔的轴线与汤姆逊离子谱仪的进出孔的轴线重合;汤姆逊离子谱仪用于接收瞄准激光并使激光穿过辐射变色膜片堆栈的中心通孔到达实验靶点;实验靶点用于接收实验打靶激光,并使实验打靶激光加速产生质子,激光加速产生的质子会辐照在辐射变色膜片堆栈上实现离散能量角分布测量,小部分质子将穿过辐射变色膜片堆栈的中心通孔进入汤姆逊离子谱仪实现能谱测量。本实用新型综合汤姆逊离子谱仪和辐射变色膜片堆栈这两套设备能够实现宽范围下的高精度能谱测量。

基本信息
专利标题 :
一种质子绝对能谱测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021054657.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-10
授权号 :
CN212932973U
授权日 :
2021-04-09
发明人 :
滕建邓志刚周维民单连强贺书凯朱斌王为武田超张天奎张锋袁宗强
申请人 :
中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请人地址 :
四川省绵阳市919信箱986-6分箱
代理机构 :
北京高沃律师事务所
代理人 :
杜阳阳
优先权 :
CN202021054657.3
主分类号 :
G01T1/36
IPC分类号 :
G01T1/36  G01T7/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/175
电源电路
G01T1/36
测量X射线或核辐射的能谱分布
法律状态
2021-04-09 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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