一种紧凑型质子能谱测量装置
授权
摘要
本实用新型提供了一种紧凑型质子能谱测量装置，解决现有采用堆栈探测器对质子能谱探测，效率低且具有接触污染物风险的问题。该装置包括沿质子出射方向依次同轴设置的楔形滤片、闪烁体、成像镜头及探测器；楔形滤片的薄边厚度为0.2mm～2mm，厚边厚度为1.0mm～10mm；成像镜头采用物方远心系统；质子束入射楔形滤片，经楔形滤片能谱过滤后入射闪烁体，激发出可见光子并入射至成像镜头，成像镜头将可见光子的空间分布图像成像到探测器的像增强靶面上。楔形滤片不同厚度位置透过的质子能量不同，因而通过楔形滤片可以获得质子的连续能谱信息，实现质子能谱的高效测量。
基本信息
专利标题 ：
一种紧凑型质子能谱测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021834043.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-26
授权号 ：
CN212569163U
授权日 ：
2021-02-19
发明人 ：
闫亚东刘霞刚高炜李奇王军宁何俊华
申请人 ：
中国科学院西安光学精密机械研究所
申请人地址 ：
陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
代理机构 ：
西安智邦专利商标代理有限公司
代理人 ：
董娜
优先权 ：
CN202021834043.7
主分类号 ：
G01T1/36
IPC分类号 ：
G01T1/36
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/175
电源电路
G01T1/36
测量X射线或核辐射的能谱分布
法律状态
2021-02-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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