用于光学成像能谱测量系统的质子灵敏度刻度装置及方法
实质审查的生效
摘要

本发明为解决质子束灵敏度刻度实验中,不影响质子束与气体闪烁体相互作用前提下,对质子束强度实时准确在线测量的技术问题,而提出了一种用于光学成像能谱测量系统的质子灵敏度刻度装置及方法。该装置包括灵敏度刻度单元、加速单元和光学成像单元;所述灵敏度刻度单元与加速单元共轴;所述敏度刻度单元质子束入射窗口与加速单元质子束出射窗口均密封;所述灵敏度刻度单元上与质子束运动方向垂直的方向预留有气体荧光传输通道,且气体荧光传输通道密封;所述光学成像单元位于灵敏度刻度单元上其中一个气体荧光传输通道口的一侧。本发明提出的质子灵敏度刻度方法为实现光学方法脉冲中子能谱测量和应用于带电粒子束能谱及注量监测提供技术支撑。

基本信息
专利标题 :
用于光学成像能谱测量系统的质子灵敏度刻度装置及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114509802A
申请号 :
CN202210151804.6
公开(公告)日 :
2022-05-17
申请日 :
2022-02-18
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
刘金良欧阳晓平何世熠陈亮张建福杜雪张显鹏阮金陆
申请人 :
西北核技术研究所
申请人地址 :
陕西省西安市灞桥区平峪路28号
代理机构 :
西安智邦专利商标代理有限公司
代理人 :
赵逸宸
优先权 :
CN202210151804.6
主分类号 :
G01T1/36
IPC分类号 :
G01T1/36  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/175
电源电路
G01T1/36
测量X射线或核辐射的能谱分布
法律状态
2022-06-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01T 1/36
申请日 : 20220218
2022-05-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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