用快中子和连续能谱X射线进行材料识别的方法及其装置

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摘要

用快中子和连续能谱X射线进行材料识别的方法及其装置，涉及大型客体辐射成像检测技术领域。本发明方法的主要步骤为：①用快中子源和连续能谱X射线源分别发射的快中子束和连续能谱X射线束穿透被检客体，直接测量快中子束和连续能谱X射线束并分别扫描成像。②利用快中子束和连续能谱X射线束衰减的不同所形成的曲线进行材料识别。本发明采用仅和被检客体的等效原子序数Z有关的n－x曲线进行材料识别，利用连续能谱X射线具有的高穿透力，在满集装箱或被检物很厚的情况下，也能进行材料识别，具有设备简单、成像清晰、实时检测准确率高的特点。

基本信息

专利标题：

用快中子和连续能谱X射线进行材料识别的方法及其装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1959387A

申请号：

CN200510086764.8

公开（公告）日：

2007-05-09

申请日：

2005-11-03

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

康克军胡海峰谢亚丽苗齐田杨袆罡李元景陈志强王学武

申请人：

清华大学;清华同方威视技术股份有限公司

申请人地址：

100083北京市清华同方科技广场A座2907

代理机构：

代理人：

优先权：

CN200510086764.8

主分类号：

G01N23/04

IPC分类号：

G01N23/04 G01N23/06 G01N23/08 G06K9/00