一种双工作台光学散射测量系统
实质审查的生效
摘要
本发明属于光学测量技术领域,公开了一种双工作台光学散射测量系统,包括从内向外依次同心设置的样品转台、内转台和外转台;样品转台用于放置待测样品,内转台上安装有光源组件和对准装置,光源组件包括光源支架和激光源,激光源安装在光源支架上,对准装置设置在激光源的光路上,用于对待测样品的入射光线进行对准调整;外转台上安装有检测组件,检测组件包括检测装置支架和探测器,探测器安装在检测装置支架上,检测组件用于对待测样品进行测量;样品转台、内转台和外转台分别按照预设的旋转角度进行转动,以调整待测样品的入射光线的入射角和测量角,并调节入射光线的对准角度。本发明可以同时实现光线对准和测量。
基本信息
专利标题 :
一种双工作台光学散射测量系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114485394A
申请号 :
CN202210005296.0
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-01-05
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
宋毅雷志丹杨德坤
申请人 :
武汉大学
申请人地址 :
湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学
代理机构 :
武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
胡琦旖
优先权 :
CN202210005296.0
主分类号 :
G01B11/00
IPC分类号 :
G01B11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/00
申请日 : 20220105
申请日 : 20220105
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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