在线测定镀铝薄膜微涂层厚度变化测量的装置

专利权的终止

摘要

本实用新型涉及一种在线测定镀铝薄膜微涂层厚度变化测量的装置，包括：发射模块的发射体和接收模块的接受体；所述的接收模块的接受体通过通讯模块将模数转换后的数据输入计算机；所述的计算机通过软件快速处理、分析出当前在线涂布材料表面的微涂层厚度的变化、显示在屏幕上；本实用新型的有益效果是：镀铝层的厚度以及均匀度的误差从±10％以上提到±3％的精度，满足了产品质量的要求。

基本信息

专利标题：

在线测定镀铝薄膜微涂层厚度变化测量的装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200820055437.5

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2008-02-04

授权号：

CN201259416Y

授权日：

2009-06-17

发明人：

洪晓冬何贤干

申请人：

上海永超真空镀铝有限公司

申请人地址：

201706上海市青浦区青浦工业园区崧盈路1288号

代理机构：

上海智信专利代理有限公司

代理人：

胡美强

优先权：

CN200820055437.5

主分类号：

G01B11/06

IPC分类号：

G01B11/06 G01B17/02 C23C14/14 C23C14/24