跳点扫描辐射成像装置
专利权的终止
摘要

本实用新型涉及跳点扫描辐射成像装置,属于辐射成像安全检测设备领域,该装置包括辐射源,依次设置在该辐射源的射线束出射方向上的狭缝准直器、点扫描产生器、透射探测器、背散射探测器,以及分别与透射探测器和背散射探测器相连的计算机,该点扫描产生器采用转筒式跳点扫描产生器,该转筒壁上设置有离散分布的孔径或切槽;旋转时产生来回跳跃扫描的笔形射束。该装置还包括由可见光光源和反射镜构成的光学对位器。本实用新型的跳点扫描产生器,体积小,重量轻,转动惯量小,刚度和质量对称性好,在高速旋转时稳定;笔形射束的亮度和形状一致性好,检测近地物体死角小。本实用新型还可在不开通辐射源的情况下对整个成像系统进行精确对位和调整。本装置可用于固定式、车载或便携式的具有背散射成像的检测系统。

基本信息
专利标题 :
跳点扫描辐射成像装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820079391.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-03-14
授权号 :
CN201173903Y
授权日 :
2008-12-31
发明人 :
王经瑾
申请人 :
王经瑾
申请人地址 :
100084北京市海淀区清华大学荷清苑7号楼2单元501
代理机构 :
北京清亦华知识产权代理事务所
代理人 :
廖元秋
优先权 :
CN200820079391.0
主分类号 :
G01N23/04
IPC分类号 :
G01N23/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2018-04-06 :
专利权的终止
专利权有效期届满IPC(主分类) : G01N 23/04
申请日 : 20080314
授权公告日 : 20081231
2008-12-31 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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