一种光学外差法倏逝波腔衰荡光谱分析装置
避免重复授权放弃专利权
摘要
本实用新型涉及一种光学外差法倏逝波腔衰荡光谱分析装置。现有技术结构复杂,不能对薄膜、界面、纳米物质等进行测试。本实用新型的探测部件采用对称结构的柱体或半球体,内部形成光反射腔,外表面镀有高反射膜。探测部件光纤耦合准直器与探测部件位置配合。激光光源和分光镜光纤耦合准直器分别设置在分光镜的两侧。光电探测器与分光镜光纤耦合准直器设置在分光镜的工作面的同一侧面,并且设置在分光镜的反射光方向上。探测部件光纤耦合准直器与分光镜光纤耦合准直器通过光纤连接。本实用新型精细腔构成简单,只有一个光学元件,结构简单稳定,对机械定位要求低,并且光谱分析测量对象能够拓展到薄膜、界面、纳米物质、流体。
基本信息
专利标题 :
一种光学外差法倏逝波腔衰荡光谱分析装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820084729.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-03-31
授权号 :
CN201173897Y
授权日 :
2008-12-31
发明人 :
高秀敏王健
申请人 :
杭州电子科技大学
申请人地址 :
310018浙江省杭州市江干区下沙高教园区2号大街
代理机构 :
杭州求是专利事务所有限公司
代理人 :
张法高
优先权 :
CN200820084729.1
主分类号 :
G01N21/39
IPC分类号 :
G01N21/39 G01N21/25
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色;光谱性质,即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应,例如原子吸收光谱术
G01N21/39
利用可调谐的激光器
法律状态
2010-12-01 :
避免重复授权放弃专利权
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101047788445
IPC(主分类) : G01N 21/39
专利号 : ZL2008200847291
申请日 : 20080331
授权公告日 : 20081231
放弃生效日 : 20080331
号牌文件序号 : 101047788445
IPC(主分类) : G01N 21/39
专利号 : ZL2008200847291
申请日 : 20080331
授权公告日 : 20081231
放弃生效日 : 20080331
2008-12-31 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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